Towards scanning nanostructure X-ray microscopy

Publikation: Bidrag til tidsskriftTidsskriftartikelForskningfagfællebedømt

Dokumenter

  • vb5028

    Forlagets udgivne version, 1,15 MB, PDF-dokument

  • Anton Kovyakh
  • Soham Banerjee
  • Chia-hao Liu
  • Christopher J. Wright
  • Yuguang C. Li
  • Thomas E. Mallouk
  • Feidenhans'l, Robert Krarup
  • Simon J. L. Billinge
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftJournal of Applied Crystallography
Vol/bind56
Udgave nummer4
Sider (fra-til)1221-1228
Antal sider8
ISSN0021-8898
DOI
StatusUdgivet - 1 aug. 2023

ID: 366342025