Robert Krarup Feidenhans'l

Robert Krarup Feidenhans'l

Professor, Gæsteprofessor

ORCID: 0000-0002-7963-3649

Udgivelsesår:
Alle
31 - 40 ud af 92Pr. side: 10
Sortering: 1. forfatter
  1. Udgivet

    Directional x-ray dark-field imaging of strongly ordered systems

    Jensen....[et al.), T. H., Bech, M. & Feidenhans'l, Robert Krarup, 6 dec. 2010, I: Physical Review B. 82, 21, s. 214103 8 s.

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  2. Udgivet

    Adaptive center determination for effective suppression of ring artifacts in tomography images

    Jha, D., Sørensen, H. O., Dobberschütz, S., Feidenhans'l, Robert Krarup & Stipp, S. L. S., 2014, I: Applied Physics Letters. 105, 4 s., 143107.

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  3. Udgivet

    McXtrace: a modern ray-tracing package for x-ray instrumentation

    Knudsen, E. B., Prodi, A., Willendrup, P. K., Lefmann, Kim, Baltser, J., Gundlach, C., Sanchez del Rio, M., Ferrero, C. & Feidenhans'l, Robert Krarup, 23 sep. 2011, I: Proceedings of SPIE. 8141, s. 81410G-81410G-7

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Konferenceartikel › Forskning › fagfællebedømt

  4. Udgivet

    Towards scanning nanostructure X-ray microscopy

    Kovyakh, A., Banerjee, S., Liu, C., Wright, C. J., Li, Y. C., Mallouk, T. E., Feidenhans'l, Robert Krarup & Billinge, S. J. L., 1 aug. 2023, I: Journal of Applied Crystallography. 56, 4, s. 1221-1228 8 s.

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  5. Udgivet

    In-situ x-ray characterization of wurtzite formation in GaAs nanowires

    Krogstrup, Peter, Madsen, M. H., Wen, H., Miwa, K., Nygård, Jesper, Masamitu, T. & Feidenhans'l, Robert Krarup, 27 feb. 2012, I: Applied Physics Letters. 100, 9, 4 s., 093103.

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  6. Udgivet

    Imaging the pore space in chalk using X-ray tomography

    Kynde, S. A. R., Sperling, L., Feidenhans'l, Robert Krarup & Stipp, S. L. S., 2009.

    Publikation: Konferencebidrag › Poster › Forskning

  7. Udgivet

    Detection of sub-pixel fractures in X-ray dark-field tomography

    Lauridsen, T., Willner, M., Bech, M., Pfeiffer, F. & Feidenhans'l, Robert Krarup, 2 nov. 2015, I: Applied Physics A: Materials Science & Processing. 121, 3, s. 1243-1250

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  8. Udgivet

    Visualisation by high resolution synchrotron X-ray phase contrast micro-tomography of gas films on submerged superhydrophobic leaves

    Lauridsen, T., Glavina, K., Colmer, T. D., Winkel, A., Irvine, S., Lefmann, Kim, Feidenhans'l, Robert Krarup & Pedersen, Ole, 1 okt. 2014, I: Journal of Structural Biology. 188, 1, s. 61-70

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  9. Udgivet

    Mapping misoriented fibers using X-ray dark field tomography

    Lauridsen, T., Feidenhans'l, Robert Krarup & Lauridsen, E. M., 1 jun. 2014, I: Applied Physics A: Materials Science & Processing. 115, 3, s. 741-745

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  10. Udgivet

    Revealing misfit dislocations InAsxP1-x-InP core-shell nanowires by x-ray diffraction

    Lazarev, S., Goransson, D. J. O., Borgstrom, M., Messing, M. E., Xu, H. Q., Dzhigaev, D., Yefanov, O. M., Bauer, S., Baumbach, T., Feidenhans'l, Robert Krarup, Samuelson, L. & Vartanyants, I. A., 13 dec. 2019, I: Nanotechnology. 30, 50, 12 s., 205703.

    Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

Forrige 1 2 3 4 5 6 7 8 ...10 Næste

ID: 5863