Micro-Raman spectroscopy for the detection of stacking fault density in InAs and GaAs nanowires
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Artikelnummer | 165433 |
| Tidsskrift | Physical Review B |
| Vol/bind | 96 |
| Udgave nummer | 16 |
| Antal sider | 7 |
| ISSN | 2469-9950 |
| DOI | |
| Status | Udgivet - 19 okt. 2017 |
ID: 185228649