Measurement of strain in the InGaN/GaN heterogeneous nanostructures

Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt

  • Tomas Stankevic
  • S. Mickevicius
  • Mikkel Schou Nielsen
  • Feidenhans'l, Robert Krarup
  • Olga Kryliouk
  • Rafal Ciechonski
  • Giuliano Vescovi
  • Z. Bi
  • Anders Mikkelsen
  • Lars Samuelsen
  • Carsten Gundlach
OriginalsprogEngelsk
TidsskriftJournal of Applied Crystallography
Vol/bind48
Udgave nummerPart 2
Sider (fra-til)344-349
Antal sider6
ISSN0021-8898
DOI
StatusUdgivet - 12 nov. 2015

ID: 148104957